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實驗室硅酸根分析儀 型號:XN84GXF-215C
技術參數
測量范圍 0~199.9μg/LSiO2
基本誤差≤±2.5%FS
重復性誤差≤±0.5%FS
短期漂|移（30分鐘） ： ≤±0.5%FS
長|期|漂|移(24小時） ： ≤±2.5%FS
化學方法 ：硅鉬蘭光度法GB 12150—89
實驗室硅酸根分析儀 型號:XN84GXF-215C
技術參數
測量范圍 0~199.9μg/LSiO2
基本誤差≤±2.5%FS
重復性誤差≤±0.5%FS
短期漂|移（30分鐘） ： ≤±0.5%FS
長|期|漂|移(24小時） ： ≤±2.5%FS
化學方法 ：硅鉬蘭光度法GB 12150—89
實驗室硅酸根分析儀 型號:XN84GXF-215C
技術參數
測量范圍 0~199.9μg/LSiO2
基本誤差≤±2.5%FS
重復性誤差≤±0.5%FS
短期漂|移（30分鐘） ： ≤±0.5%FS
長|期|漂|移(24小時） ： ≤±2.5%FS
化學方法 ：硅鉬蘭光度法GB 12150—89
